Demi-journée pédagogique - INSA 13 juin
Le 13 juin prochain est organisée à l'INSA de Toulouse une demi-journée durant laquelle nous pourrons échanger sur différents sujets ayant trait aux techniques de caractérisation.
Au programme (voir plus bas), des exposés de la part de plusieurs constructeurs, ainsi que de collègues de nos laboratoires.
S'agissant d'une session pédagogique, nous vous invitons à diffuser l'information de cette demi-journée autour de vous, à vos collègues, étudiants, doctorants, stagiaires, qui pourraient y trouver un intérêt.
Pour optimiser l'organisation de la demi-journée, nous vous remercions de bien vouloir vous inscrire individuellement et sans tarder à cette session au moyen du formulaire en bas de page.
Programme
| 13:30 | Accueil des participants | |
| 13:45 | Samia SOUAI - DELTA MICROSCOPIES | Présentation entreprise/produits pour le MEB |
| 14:00 | Fathi EL KHOLY - MILEXIA | 2 fiches applications :
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| 14:25 | Deniz AKMAN - ZEISS | Colonne Gemini & Technologie nano-VP
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| 14:50 | Jérôme ESVAN - CIRIMAT | Complémentarité XPS-AUGER : Application aux matériaux Ultra Haute Température |
| 15:20 | Pause | |
| 15:40 | Philippe LASSON - SYNERGIE4 | Détecteurs SDD de 7ème génération / classiques / sans fenêtres / annulaires |
| 16:05 | Brice LOPEZ - OXFORD INSTRUMENTS | Nouveautés chez Oxford Instruments – WDS : A la portée de tous avec AZtecWAVE et Unity : détecteur d’imagerie élémentaire. |
| 16:30 | Patrick NGUYEN - ELEMCA | Miroir à électrons |
| 16:50 | Yannick THEBAULT - CIRIMAT | Spécimens non conducteurs au MEB : du liquide en vide secondaire -> reporté |